首頁 向上 聯絡我們 網站導覽 快速檢索產品

雷射測定儀
NIKON顯微鏡 V-E1 CNC影像量測系統 影像式工具顯微鏡 MOTIC顯微鏡 NEXIV VMR 系統 Hirox數位顯微鏡 共軛焦顯微鏡 URANUS顯微鏡系列 URANUS特殊配件 視頻光學 三次元座標測定儀 光學投影機 雷射測定儀 現場式影像 高度計 實體顯微鏡 內視鏡 高倍顯微鏡 準直儀 其它儀器   

 


◎商品名稱: 雷射感測器 --- 原理
 
◎商品型號: 日製雷射高精度位移感應器-配件  
◎特色說明:   LK系列的測量原則  
  CCD鐳射變位感測器採用一套三角測量系統。  
  傳統的鐳射變位號感測器採用PSD(位置感應檢出器)受光元件。而LK 系列則採用CCD受光元件。  
  傳統的鐳射變位感測器採用PSD 或者CCD上。  
  PSD利用進入受測元件的全部光線點的光線分配量,來決定光線點中央號位置並且據此識別被測物的位置。  
  但是,因為光線量的分配受被測物表面條件所影響,而容易造成測量數據的偏差。  
  CCD測量光線點檢出各像素的光線分配量的峰值並且據此決定被測物的位置。  
  所以CCD能夠高精度地進行物體變位可靠的測量,而不受光線點的光線分配量的影響。  
◎商品配件:    
◎備註說明:    
       
   
◎商品名稱: 日製雷射高精度位移感應器
◎商品型號: 日製雷射高精度位移感應器(keyence)
◎特色說明: 測定原理︰雷射三角量測式
適       用      性︰ 擴散反射物體、鏡面物體、多顏色物體、黑色橡膠物體
產           業︰ 電子、半導體、光電、機械、醫療、金屬、高精度加工業
儀   器   特   性︰ F.S的±0.1%的線性度
      1um(LK-031)/3um(LK-081)/5um(LK-051)解晰值
光   點   光   束︰ 30um/80um/350um  
測定範圍/工作距離︰ ±5/30mm;±15/80mm;±100/350mm  
◎商品配件: 光學LK、日製雷射高精度位移感應器-配件   
◎備註說明:    
       
   
◎商品名稱: 雷射測定儀
◎商品型號: 東京光電雷射測定儀
 
 
   
     
     
     
     
       
       
       
       
       
       
       
       
◎特色說明: 各型號規格如上表  
◎商品配件:    
◎備註說明:    
       
   
◎商品名稱: 日製CCD雷射位多感測器—LK Series
◎商品型號: 光學LK
◎特色說明:   LK系列的測量原則
  CCD鐳射變位感測器採用一套三角測量系統。
  傳統的鐳射變位號感測器採用PSD(位置感應檢出器)受光元件。而LK 系列則採用CCD受光元件。
  傳統的鐳射變位感測器採用PSD 或者CCD上。
  PSD利用進入受測元件的全部光線點的光線分配量,來決定光線點中央號位置並且據此識別被測物的位置。
  但是,因為光線量的分配受被測物表面條件所影響,而容易造成測量數據的偏差。
  CCD測量光線點檢出各像素的光線分配量的峰值並且據此決定被測物的位置。  
  所以CCD能夠高精度地進行物體變位可靠的測量,而不受光線點的光線分配量的影響。  
    1.先進 CCD和32Bit 處理器進行精確之高度、位置測量。  
    2.不受顏色、表面狀況或光線干擾影響。  
    3.機  型:LK-031(高精度)/LK-081(標準)/LK-501(長距離)  
    4.工作距離(量測範圍+/-):30(5)/80(15)/350(100)㎜  
    5.雷射光點:30/70/700um;線性度:+/-0.1﹪(FS)  
    6.解析值 :1/3/10um  
    7.取樣週期:512/1024/1024us  
    8.重  量:260/385/700g  
◎商品配件:    
◎備註說明:    

各位客戶,不知上述商品是否符合您的需求,若有任何問題與意見可與我們連絡,謝謝!


本網頁最佳瀏覽解析度為800*600

首頁 向上 新聞 宇晟國際產品 推薦產品 顯微鏡效果圖 特惠專區 技術文獻 快速檢索產品

Copyright ©2006 宇晟國際股份有限公司