◎商品名稱: |
雷射感測器 --- 原理 |
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◎商品型號: |
日製雷射高精度位移感應器-配件 |
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◎特色說明: |
LK系列的測量原則 |
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CCD鐳射變位感測器採用一套三角測量系統。 |
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傳統的鐳射變位號感測器採用PSD(位置感應檢出器)受光元件。而LK 系列則採用CCD受光元件。 |
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傳統的鐳射變位感測器採用PSD 或者CCD上。 |
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PSD利用進入受測元件的全部光線點的光線分配量,來決定光線點中央號位置並且據此識別被測物的位置。 |
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但是,因為光線量的分配受被測物表面條件所影響,而容易造成測量數據的偏差。 |
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CCD測量光線點檢出各像素的光線分配量的峰值並且據此決定被測物的位置。 |
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所以CCD能夠高精度地進行物體變位可靠的測量,而不受光線點的光線分配量的影響。 |
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◎商品配件: |
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◎備註說明: |
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◎商品名稱: |
日製雷射高精度位移感應器 |
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◎商品型號: |
日製雷射高精度位移感應器(keyence) |
◎特色說明: |
測定原理︰雷射三角量測式 |
適 用 性︰ |
擴散反射物體、鏡面物體、多顏色物體、黑色橡膠物體 |
產 業︰ |
電子、半導體、光電、機械、醫療、金屬、高精度加工業 |
儀 器 特 性︰ |
F.S的±0.1%的線性度 |
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1um(LK-031)/3um(LK-081)/5um(LK-051)解晰值 |
光 點 光 束︰ |
30um/80um/350um |
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測定範圍/工作距離︰ |
±5/30mm;±15/80mm;±100/350mm |
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◎商品配件: |
光學LK、日製雷射高精度位移感應器-配件 |
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◎備註說明: |
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◎商品名稱: |
雷射測定儀 |
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◎商品型號: |
東京光電雷射測定儀 |
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◎特色說明: |
各型號規格如上表 |
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◎商品配件: |
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◎備註說明: |
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◎商品名稱: |
日製CCD雷射位多感測器—LK Series |
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◎商品型號: |
光學LK |
◎特色說明: |
LK系列的測量原則 |
CCD鐳射變位感測器採用一套三角測量系統。 |
傳統的鐳射變位號感測器採用PSD(位置感應檢出器)受光元件。而LK 系列則採用CCD受光元件。 |
傳統的鐳射變位感測器採用PSD 或者CCD上。 |
PSD利用進入受測元件的全部光線點的光線分配量,來決定光線點中央號位置並且據此識別被測物的位置。 |
但是,因為光線量的分配受被測物表面條件所影響,而容易造成測量數據的偏差。 |
CCD測量光線點檢出各像素的光線分配量的峰值並且據此決定被測物的位置。 |
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所以CCD能夠高精度地進行物體變位可靠的測量,而不受光線點的光線分配量的影響。 |
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1.先進 CCD和32Bit 處理器進行精確之高度、位置測量。 |
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2.不受顏色、表面狀況或光線干擾影響。 |
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3.機 型:LK-031(高精度)/LK-081(標準)/LK-501(長距離) |
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4.工作距離(量測範圍+/-):30(5)/80(15)/350(100)㎜ |
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5.雷射光點:30/70/700um;線性度:+/-0.1﹪(FS) |
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6.解析值 :1/3/10um |
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7.取樣週期:512/1024/1024us |
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8.重 量:260/385/700g |
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◎商品配件: |
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◎備註說明: |
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